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円偏光散乱を用いた新たながん診断技術を実証
URL
https://www.titech.ac.jp/news/2021/049223.html
内容
東京工業大学 科学技術創成研究院の西沢望助教は共同研究により、円偏光散乱を用いた新たながん診断技術を実験的に実証した。本研究はドイツの学術誌「Journal of Biophotonics(ジャーナル・オブ・バイオフォトニクス)」3月号に掲載され、掲載号のインサイドカバーに採用された。